電子測試和測量設備可分為兩大類；測量儀器和信號源。數(shù)字萬用表、數(shù)字化儀、示波器、頻譜分析儀和邏輯分析儀等儀器測量輸入信號的電氣特性，最典型的是電位差或電壓。需要信號源提供用作測試激勵的信號。在許多測試情況下，被測設備不會自行生成信號。以放大器為例。如果沒有信號源來提供適當?shù)妮斎胄盘?，則無法進行重要的電氣測量。正是測量儀器和信號源的組合使電氣測試成為可能。在本筆記中，我們將討論任意波形發(fā)生器 (AWG) 的使用。

信號發(fā)生器分類總結(jié)

信號發(fā)生器有多種類型，每一種都對應特定的測試需求。表 1 總結(jié)了常用的信號發(fā)生器。

表 1：常用信號發(fā)生器匯總

信號源特征波形

射頻信號發(fā)生器

能夠在很寬的頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生 CW（連續(xù)波）正弦信號。

許多產(chǎn)品提供各種類型的模擬調(diào)制。包括幅度、頻率、相位和脈沖調(diào)制。

一些特殊的產(chǎn)品具有可以在用戶設置的頻率響應測試范圍內(nèi)掃描輸出頻率的能力。

正弦

調(diào)制正弦

掃頻正弦

矢量信號發(fā)生器能夠生成數(shù)字調(diào)制的 RF 信號，這些信號可以使用數(shù)字調(diào)制格式中的任何一種，例如QAM、QPSK、FSK、BPSK 和 OFDM。正弦

調(diào)制正弦

脈沖發(fā)生器產(chǎn)生脈沖波形或方波。用于測試數(shù)字和脈沖系統(tǒng)。矩形脈沖

數(shù)據(jù)或數(shù)據(jù)

模式生成器產(chǎn)生多個邏輯信號（即邏輯 1 和 0），用作數(shù)字電路和系統(tǒng)功能驗證和測試的激勵源。矩形脈沖

函數(shù)發(fā)生器生成簡單的重復波形，如正弦波、鋸齒波、階躍（脈沖）、方波和三角波?？赡馨撤N調(diào)制功能，例如幅度調(diào)制 (AM)、頻率調(diào)制 (FM) 或相位調(diào)制 (PM)正弦

矩形脈沖

方波

三角形

斜波/鋸齒

調(diào)制波形

噪聲

任意波形發(fā)生器基于數(shù)字的信號源能夠在標示的帶寬、頻率范圍、精度和輸出電平限制內(nèi)生成任何波形。以上全部

任意波形發(fā)生器盡可能接近通用信號源?？梢允褂梅匠桃愿呔确治鰟?chuàng)建波形，或者使用數(shù)字化儀或數(shù)字示波器捕獲并重放。

此外，模塊化 AWG 提供緊湊的尺寸和與其主機計算機的高度集成兼容性，使其成為自動化測試系統(tǒng)的理想選擇。

任意波形發(fā)生器

任意波形發(fā)生器 (AWG) 是數(shù)字信號源，其操作非常類似于數(shù)字化儀的反向操作。在數(shù)字化儀對模擬波形進行采樣、數(shù)字化然后將其存儲在其采集存儲器中的情況下，AWG 具有存儲在波形存儲器中的波形的數(shù)字描述。選定的波形樣本被發(fā)送到數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC)，然后經(jīng)過適當?shù)臑V波和信號調(diào)節(jié)，作為模擬波形輸出。圖 1 包含 AWG 的概念框圖。

波形以數(shù)字形式加載到波形存儲器中。與數(shù)字化儀中的采集存儲器一樣，該存儲器必須能夠以 AWG 支持的最高采樣率進行計時。當收到指令時，波形存儲器的內(nèi)容被發(fā)送到 DAC，在那里數(shù)字值被轉(zhuǎn)換為模擬電壓。一些 DAC 允許額外的內(nèi)插以達到比波形存儲器提供的更高的輸出更新率。

存儲器控制器跟蹤波形存儲器中每個波形組件的元素以及任何關(guān)聯(lián)的鏈接，并以正確的順序輸出它們。此外，為了節(jié)省內(nèi)存空間，它可以在重復元素上循環(huán)，這樣這些元素在波形內(nèi)存中只需要列出一次。

DAC 輸出諧波豐富，需要濾波。這是在輸出級完成的，它通過調(diào)整增益和偏移來過濾和調(diào)節(jié)信號以滿足用戶的波形規(guī)范。

波形的時序由時鐘控制，該時鐘可以使用內(nèi)部或外部時鐘源。

同步由觸發(fā)發(fā)生器維持，觸發(fā)發(fā)生器根據(jù)用戶選擇的事件輸出或推進波形。觸發(fā)事件可以是內(nèi)部的、外部的或鏈接到另一個模塊化 AWG 或數(shù)字化儀。

上述元素的實際實現(xiàn)因具體型號而異，但所有 AWG 都有相似的元素。